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上海小光束扫描狭缝轮廓仪硅探测器3.5mm 孔径1.8µm狭缝NanoScan2sSi3.51

上海小光束扫描狭缝轮廓仪硅探测器3.5mm 孔径1.8µm狭缝NanoScan2sSi3.51

  • 所属分类:上海以色列OPHIR
  • 浏览次数:
  • 发布日期:2022-08-24
  • 产品概述
  • 性能特点
  • 技术参数

深圳市智检系统有限公司,专业代理销售各传感器,包括日本NMB、BD SENSORS博德、德国福林泰克传感器,德国梅斯泰克传感器、美国AST压力传感器、美国MSO传感器、日本Noiseken位移传感器、以及德国PTL试验仪、以色列ophir、德国WAZAU试验仪、日本志贺 我们的目标就是国内用户采购国外备件遇到困难和疑难时都能找到奥德赛创。我们能够及时地报出优惠的价格和迅捷的交货期,并且为客户提供传感器解决方案。

小光束扫描狭缝轮廓仪:硅探测器,3.5mm 孔径,1.8µm 狭缝

 

描述: 

这种 NanoScan 扫描狭缝轮廓分析系统使用其硅探测器准确捕获和分析 190nm - 1100nm 的波长。它具有适用于小光束的狭缝尺寸、近乎实时的数据采集速率、可选的功率测量功能,并在 CW 或 kHz 脉冲模式下运行,非常适合对 UV、可见光和 NIR 激光进行综合分析。

  • 光束尺寸为 7µm 至 ~2.3mm

  • ~10nW 至 ~10W 的功率水平

  • USB 2.0 接口

  • 包括 NanoScan Standard 或 Professional 软件

规格:

  • 190-1100nm

  • 7μm - 2.3mm

  • USB 2.0

  • CW,脉冲 >25kHz

  • ~10nW - ~10W

  • 1.8微米

  • 3.5毫米

  • 83毫米

  • CE、UKCA、中国 RoHS













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